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Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial – 2ª Edição

Referência: 9788520433751
  • Autores: : Armando Albertazzi G. Jr., André R. de Sousa
  • Este livro foi inicialmente concebido como material de apoio para o aprendizado da metrologia nos cursos de graduação e pós-graduação nas áreas das engenharias, ciências exatas e afins. A abordagem intuitiva e o sequenciamento progressivo adotado tornam o livro adequado para pessoas autodidatas, bem como acessível para cursos técnicos e de educação continuada. Esta nova edição acrescenta um capítulo sobre o uso de simulações numéricas para estimar incertezas de medição e um novo anexo com conceitos de estatística apresentados de forma intuitiva. O objetivo é que esta obra possa conduzir o leitor à compreensão e aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.
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    Por que ler esse livro ?
    Segunda edição revisada e atualizada de acordo com as novidades mais recentes no campo da metrologia.
    • André R. de Sousa: Professor titular do departamento de Mecânica do Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia de Santa Catarina (IFSC) e membro permanente do Programa de Pós-Graduação em Mecatrônica. Leciona metrologia e engenharia de precisão em cursos técnicos, de graduação, de pós-graduação, e em cursos de formação continuada. Atua como pesquisador e consultor no campo da metrologia com foco na medição por coordenadas e GD&T.
    • Armando Albertazzi G. Jr.: É professor titular do departamento de Engenharia Mecânica da Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC) e membro permanente do Programa de Pós-Graduação em Engenharia Mecânica. Leciona metrologia e estatística em cursos de graduação e pós-graduação. É pesquisador atuante no campo da metrologia óptica, desenvolvendo e aplicando sistemas de medição que usam a luz para medir.
    • André R. de Sousa: Professor titular do departamento de Mecânica do Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia de Santa Catarina (IFSC) e membro permanente do Programa de Pós-Graduação em Mecatrônica. Leciona metrologia e engenharia de precisão em cursos técnicos, de graduação, de pós-graduação, e em cursos de formação continuada. Atua como pesquisador e consultor no campo da metrologia com foco na medição por coordenadas e GD&T. Armando Albertazzi G. Jr.: É professor titular do departamento de Engenharia Mecânica da Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC) e membro permanente do Programa de Pós-Graduação em Engenharia Mecânica. Leciona metrologia e estatística em cursos de graduação e pós-graduação. É pesquisador atuante no campo da metrologia óptica, desenvolvendo e aplicando sistemas de medição que usam a luz para medir.
    • Capítulo 1 – Medir
    • Capítulo 2 – Unidades de medida e sistema internacional
    • Capítulo 3 – Erro de medição
    • Capítulo 4 – Sistema de medição
    • Capítulo 5 – Calibração de sistemas de medição
    • Capítulo 6 – Resultados de medição diretas
    • Capítulo 7 – Resultados de medições indiretas
    • Capítulo 8 Propagação de incertezas através de módulos
    • Capítulo 9 – Análise de incerteza através de simulação numérica
    • Capítulo 10 – Controle de qualidade
    • Capítulo 11 – Seleção de sistemas de medição
    • Capítulo 12 – Confiabilidade de processos de medição na indústria
    • Capítulo 1 – Medir Capítulo 2 – Unidades de medida e sistema internacional Capítulo 3 – Erro de medição Capítulo 4 – Sistema de medição Capítulo 5 – Calibração de sistemas de medição Capítulo 6 – Resultados de medição diretas Capítulo 7 – Resultados de medições indiretas Capítulo 8 Propagação de incertezas através de módulos Capítulo 9 – Análise de incerteza através de simulação numérica Capítulo 10 – Controle de qualidade Capítulo 11 – Seleção de sistemas de medição Capítulo 12 – Confiabilidade de processos de medição na indústria
    • ISBN
      9788520433751
    • Peso
      0,410 kg
    • Largura
      15,5 cm
    • Altura
      22,5 cm
    • Profundidade (lombada)
      2,5 cm
    • Número de páginas
      480
    • Encadernação
      Brochura
    • Ano de publicação
      2017
    • Edição
      2. Revisada, atualizada e ampliada
    • Tipo de produto
      Livros
    fundamentos-de-metrologia-cientifica-e-industrial-2-edicao

    Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial – 2ª Edição