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    Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial – 2ª Edição - Digital
    9788520454879
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    Sobre o Curso

    Segunda edição revisada e atualizada de acordo com as novidades mais recentes no campo da metrologia.

    Currículo

    AutoresAndré R. de Sousa,Armando Albertazzi G. Jr.

    Sinopse

    SinopseEste livro foi inicialmente concebido como material de apoio para o aprendizado da metrologia nos cursos de graduação e pós-graduação nas áreas das engenharias, ciências exatas e afins. A abordagem intuitiva e o sequenciamento progressivo adotado tornam o livro adequado para pessoas autodidatas bem como acessível para cursos técnicos e de educação continuada. Esta nova edição acrescenta um capítulo sobre o uso de simulações numéricas para estimar incertezas de medição e um novo anexo com conceitos de estatística apresentados de forma intuitiva. O objetivo é que esta obra possa conduzir o leitor à compreensão e aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.

    Sumário

    SumárioCapítulo 1 – Medir
    Capítulo 2 – Unidades de medida e sistema internacional
    Capítulo 3 – Erro de medição
    Capítulo 4 – Sistema de medição
    Capítulo 5 – Calibração de sistemas de medição
    Capítulo 6 – Resultados de medição diretas
    Capítulo 7 – Resultados de medições indiretas
    Capítulo 8 Propagação de incertezas através de módulos
    Capítulo 9 – Análise de incerteza através de simulação numérica
    Capítulo 10 – Controle de qualidade
    Capítulo 11 – Seleção de sistemas de medição
    Capítulo 12 – Confiabilidade de processos de medição na indústria

    Especificações

    Tipo de produtoE-Books
    ISBN9788520454879
    Ano de publicação2017
    Edição2

    Requisitos mínimos

    Requisitos mínimos para leitura do e-bookA Editora Manole adota a plataforma de e-books VitalSource Bookshelf. Além de oferecer vários recursos, o Bookshelf permite até quatro instalações, sendo duas em dispositivos móveis (smartphones e tablets) e duas em computadores (desktops ou notebooks).

    Compatibilidade

    Além do acesso on-line e Off-line (online.vitalsource.com), o Bookshelf está disponível para os seguintes sistemas: Windows, Mac OS X, iOS e Android.

    Acesso aos e-books

    • Após a confirmação do pagamento, o e-book será associado a uma conta na VitalSource. Se você já for usuário do Bookshelf, o e-book será associado à conta existente; caso contrário, será criada uma conta com o e-mail utilizado para a compra;
    • Os dados para login devem ser informados no Bookshelf on-line ou na primeira utilização do aplicativo. Após novas aquisições, é importante clicar na opção “Atualizar biblioteca”.


    Acessibilidade

    • O aplicativo Bookshelf dispõe de recursos para auxiliar os portadores de deficiência visual. Além da ampliação de caracteres, o aplicativo oferece a leitura com voz sintetizada;
    • O recurso de leitura em português funciona em instalações em nosso idioma no Windows 7 SP1 ou superior e OS X 10.10 (Yosemite).


    Observações importantes

    • Em sistemas Linux e Windows Phone, seus e-books podem ser acessados on-line;
    Não é permitida a impressão dos e-books;
    Os e-books adquiridos no site da Editora Manole não são compatíveis com os aplicativos e dispositivos Kindle, Nook, Kobo e Lev;

    Sobre o autor

    CurrículoAndré R. de Sousa: Professor titular do departamento de Mecânica do Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia de Santa Catarina (IFSC) e membro permanente do Programa de Pós-Graduação em Mecatrônica. Leciona metrologia e engenharia de precisão em cursos técnicos, de graduação, de pós-graduação, e em cursos de formação continuada. Atua como pesquisador e consultor no campo da metrologia com foco na medição por coordenadas e GD&T.

    Armando Albertazzi G. Jr.: É professor titular do departamento de Engenharia Mecânica da Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC) e membro permanente do Programa de Pós-Graduação em Engenharia Mecânica. Leciona metrologia e estatística em cursos de graduação e pós-graduação. É pesquisador atuante no campo da metrologia óptica, desenvolvendo e aplicando sistemas de medição que usam a luz para medir.

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